產(chǎn)品中心
原位電學測試平臺，適用于半導體材料、器件變溫下的電學測試，設計小巧，便攜集成顯微、光譜系統(tǒng)
產(chǎn)品分類
實驗室通用輔助設備
查看全部產(chǎn)品
技術文章
原位電學測試平臺，適用于半導體材料、器件變溫下的電學測試，設計小巧，便攜集成顯微、光譜系統(tǒng)。
┃ 設備特點
溫度范圍 -190℃～600℃，RT~1000℃
溫度穩(wěn)定性 ±0.05℃
氣氛保護、真空
樣品區(qū) 28x30mm
探針數(shù)量 4個
電學接頭 BNC 三同軸BNC 可選
臺面電位 電接地 三同軸 背電極 可選
適配光學儀器 顯微鏡 光譜儀 鐵電 介電 電化學工作站 磁場 電學源表 半導體分析儀 DLTS
上一個：真空溫控探針臺
下一個：通用顯微冷熱臺
在線留言
關注公眾號
Copyright © 2026 北京盈思拓科技有限公司版權所有
技術支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 備案號：京ICP備2024075675號-2 sitemap.xml
服務熱線：18600717106
產(chǎn)品簡介
當前位置：
上一個：
返回列表
電鏡樣品制備